一種芯片測試裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201811099670.8 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN109031102B | 公開（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申請公布號 | CN109031102B | 申請公布日 | 2021-03-30 |
| 分類號 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 夏俊生;李壽勝;侯育增;尤廣為;李波;李文才 | 申請（專利權(quán)）人 | 安徽北方微電子研究院集團(tuán)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 安徽省蚌埠博源專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 楊晉弘 |
| 地址 | 233030安徽省蚌埠市經(jīng)濟開發(fā)區(qū)湯和路2016號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種芯片測試裝置，其特征在于：它包括基板（1），在基板（1）上設(shè)有一組連接槽（2），在基板（1）上還設(shè)有接口焊盤（3）；設(shè)置轉(zhuǎn)接板（4），在轉(zhuǎn)接板（4）下表面設(shè)有與連接槽（2）對應(yīng)配合的插塊（7），在轉(zhuǎn)接板上表面設(shè)有芯片定位槽（5），在定位槽（5）內(nèi)設(shè)有一組測試凸塊（6）。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單，制造成本低廉，使用方便，芯片PAD區(qū)連接電阻低，檢測時不會對芯片造成損傷等優(yōu)點。?? |
