一種利用主動電子束探測空間目標的裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210231319.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114690169A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114690169A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01S13/04（2006.01）I;G01S13/89（2006.01）I;G01S7/41（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉超;張賢國;朱昌波;張愛兵;孫越強;鄭香脂;孔令高;田崢 申請（專利權）人 中國科學院國家空間科學中心
代理機構 北京方安思達知識產權代理有限公司 代理人 -
地址 100190北京市海淀區(qū)中關村南二條1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及航天領域和深空探測領域，特別涉及一種利用主動電子束探測空間目標的裝置及方法；包括：全向電子發(fā)射器、全向電子接收器和成像模塊和邏輯控制模塊；其中，所述全向電子發(fā)射器發(fā)射不同能量的所述主動電子束至被測目標所在空間；所述全向電子接收器識別和接收返回的所述主動電子束；所述成像模塊，采集所述主動電子束的返回位置信息，并保存成返回位置圖像；所述邏輯控制模塊，同步采集發(fā)射的所述主動電子束的能量信息、發(fā)射的主動電子束的發(fā)射方向信息和所述返回位置圖像，并進行數(shù)據處理，以獲得被測目標的截面形狀和位置。