一種提高半導(dǎo)體放大器件直流參數(shù)測(cè)試速度和精度的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911177799.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110850264A 公開(kāi)（公告）日 2020-02-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN110850264A 申請(qǐng)公布日 2020-02-28
分類(lèi)號(hào) G01R31/26 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李淼;趙建穎;李嚴(yán)峰 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 北京博達(dá)微科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京國(guó)林貿(mào)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京博達(dá)微科技有限公司
地址 101300 北京市順義區(qū)仁和鎮(zhèn)瀾西園三區(qū)37號(hào)樓1層109室（科技創(chuàng)新功能區(qū)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種提高半導(dǎo)體放大器件直流參數(shù)測(cè)試速度和精度的方法，半導(dǎo)體放大器件直流參數(shù)測(cè)試包括對(duì)放大器件施加負(fù)載阻抗形成控制閉環(huán)系統(tǒng)，確定控制閉環(huán)系統(tǒng)中的放大器閉環(huán)參數(shù)帶寬增益積和零極點(diǎn)補(bǔ)償系數(shù)，然后進(jìn)行電壓多檔位轉(zhuǎn)換的直流電流參數(shù)測(cè)量，直至全部檔位測(cè)量完成，本發(fā)明將傳統(tǒng)的源測(cè)量單元使用模擬硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)控制循環(huán)改為可配置的選擇閉環(huán)控制，動(dòng)態(tài)調(diào)整閉環(huán)控制的響應(yīng)，全方位減少了直流參數(shù)測(cè)試時(shí)間，并在同等測(cè)試時(shí)間下增加了測(cè)量精度。