孔深誤差測量檢具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021242007.1 申請日 -
公開（公告）號 CN212931286U 公開（公告）日 2021-04-09
申請公布號 CN212931286U 申請公布日 2021-04-09
分類號 G01B5/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黎國棟;梁鎮(zhèn);覃文林 申請（專利權(quán)）人 廣西南星科技有限公司
代理機構(gòu) 柳州市集智專利商標事務所 代理人 鄧丹丹
地址 530007 廣西壯族自治區(qū)南寧市高新區(qū)振華路20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種孔深誤差測量檢具，涉及測量檢具技術(shù)領(lǐng)域，它包括外套、內(nèi)套、測微儀和校準塊，外套的一端為與加工工件的設(shè)計基準面對齊的測量定位面，內(nèi)套從另一端沿軸向插入外套中，測微儀的套筒和測量桿插入內(nèi)套沿軸向開設(shè)的測微儀安裝孔內(nèi)，測微儀、內(nèi)套和外套通過緊固件相連接；內(nèi)套具有插入加工工件的內(nèi)孔的定位段，測量桿的頭部與加工工件的內(nèi)孔的測量臺階面相抵觸；用于對測微儀進行調(diào)零的專用校準塊可放置在外套內(nèi)，校準塊的高度為設(shè)計基準面和測量臺階面間距的設(shè)計平均值。本實用新型解決了現(xiàn)有孔深檢具無法直接測量基準面在工件外表面的孔深誤差，造成工件多尺寸精度要求高、加工難度大和成本高的問題。