一種用于多存儲芯片測試的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910150254.4 申請日 -
公開（公告）號 CN109920467A 公開（公告）日 2019-06-21
申請公布號 CN109920467A 申請公布日 2019-06-21
分類號 G11C29/10（2006.01）I; G11C29/56（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 奚留華; 張凱虹; 徐德生; 常艷昭; 蘇洋 申請（專利權(quán)）人 無錫中微騰芯電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 無錫中微騰芯電子有限公司
地址 214035 江蘇省無錫市新吳區(qū)長江路21號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，具體公開了一種用于多存儲芯片測試的方法，其中，所述用于多存儲芯片測試的方法包括：根據(jù)ATE測試系統(tǒng)建立存儲刷新方式；根據(jù)所述存儲刷新方式，以同一功能碼結(jié)合多個(gè)輸入交流參數(shù)實(shí)現(xiàn)并行輸入測試；根據(jù)所述存儲刷新方式，以同一功能碼結(jié)合多個(gè)輸出交流參數(shù)實(shí)現(xiàn)并行輸出測試。本發(fā)明提供的用于多存儲芯片測試的方法很好地實(shí)現(xiàn)了疊層大容量存儲器的高效測試，縮減了測試時(shí)間。