一種數(shù)?；旌霞呻娐窚y試裝置及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110667196.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113238145A 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN113238145A 申請公布日 2021-08-10
分類號 G01R31/3167（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐彩彬;奚留華;張凱虹;孫愷凡;虞勇堅(jiān);解維坤;韓新峰;陸亞兵;劉波 申請（專利權(quán)）人 無錫中微騰芯電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 殷紅梅;陳麗麗
地址 214013江蘇省無錫市新吳區(qū)長江路21號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，具體公開了一種數(shù)模混合集成電路測試裝置，其中，包括：測試系統(tǒng)、DUT板、針卡板和探針臺，DUT板安裝在測試系統(tǒng)上，針卡板安裝在探針臺上，探針臺設(shè)置在測試系統(tǒng)內(nèi)，DUT板通過針卡板與探針臺電連接，DUT板能夠承載被測集成電路數(shù)字模塊和被測集成電路模擬模塊；測試系統(tǒng)用于存儲并提供測試資源；探針臺能夠獲取測試系統(tǒng)內(nèi)的測試資源；DUT板能夠通過針卡板獲取所述測試資源，以實(shí)現(xiàn)對被測集成電路數(shù)字模塊和被測集成電路模擬模塊的單獨(dú)測試。本發(fā)明提供的數(shù)?；旌霞呻娐窚y試方法。本發(fā)明提供的數(shù)模混合集成電路測試裝置提高了測試效率，降低了測試成本。