一種集成電路測試數據的篩選方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711280543.3 申請日 -
公開（公告）號 CN108037433B 公開（公告）日 2021-05-04
申請公布號 CN108037433B 申請公布日 2021-05-04
分類號 G01R31/26 分類 測量；測試;
發(fā)明人 奚留華 申請（專利權）人 無錫中微騰芯電子有限公司
代理機構 無錫市大為專利商標事務所（普通合伙） 代理人 殷紅梅
地址 214135 江蘇省無錫市濱湖區(qū)惠河路5號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種集成電路測試數據的篩選方法，其中，包括獲取集成電路測試數據；計算各測試參數中的最大值與最小值之間的差值；計算每個測試參數的片平均值和批平均值；計算片平均值與批平均值的片相差百分比；計算各測試參數的總平均值以及批平均值與總平均值的批相差百分比；判斷每個測試參數的片相差百分比是否大于百分比閾值以及批相差百分比是否大于百分比閾值；若是，則將該片相差百分比對應的測試參數片號進行標記，和/或，則將該批相差百分比對應的測試參數批號進行標記。本發(fā)明還公開了一種集成電路測試數據的篩選裝置。本發(fā)明提供集成電路測試數據的篩選方法，提高了數據篩選的效率。