一種用于3D-SiP芯片測(cè)試向量壓縮的方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201910086847.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN109709473A | 公開(kāi)（公告）日 | 2019-05-03 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109709473A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-05-03 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 奚留華; 張凱虹; 徐德生; 武乾文 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 無(wú)錫中微騰芯電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無(wú)錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 無(wú)錫中微騰芯電子有限公司 |
| 地址 | 214035 江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)長(zhǎng)江路21號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體公開(kāi)了一種用于3D?SiP芯片測(cè)試向量壓縮的方法，其中，所述用于3D?SiP芯片測(cè)試向量壓縮的方法包括：搜索待壓縮的測(cè)試向量的路徑；加載待壓縮的測(cè)試向量；將待壓縮的測(cè)試向量進(jìn)行模式轉(zhuǎn)換以得到壓縮后的測(cè)試向量。本發(fā)明還公開(kāi)了一種用于3D?SiP芯片測(cè)試向量壓縮的系統(tǒng)。本發(fā)明提供的用于3D?SiP芯片測(cè)試向量壓縮的方法使得壓縮后的測(cè)試向量相比待壓縮的測(cè)試向量壓縮比達(dá)到50%，能夠很大程度節(jié)省ATE中測(cè)試向量的空間。 |
