一種動態(tài)調(diào)整的閃存錯誤檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510018022.5 申請日 -
公開（公告）號 CN104658610A 公開（公告）日 2015-05-27
申請公布號 CN104658610A 申請公布日 2015-05-27
分類號 G11C29/42(2006.01)I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 黎智 申請（專利權(quán)）人 廣東省電子信息產(chǎn)業(yè)集團有限公司
代理機構(gòu) 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 廣東省電子信息產(chǎn)業(yè)集團有限公司;廣東華晟數(shù)據(jù)固態(tài)存儲有限公司
地址 510507 廣東省廣州市天河區(qū)粵墾路188號8樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種動態(tài)調(diào)整的閃存錯誤檢測方法及裝置。根據(jù)閃存中各頁所在位置的物理特性差異，將一個塊中的頁按照ECC增長的速度差異分為不同的組，在實際巡檢操作中，根據(jù)不同的頁組的ECC增長速度的差異分配不同的ECC巡檢門限值，ECC增長越快的頁面，ECC巡檢門限值越低，反之越高；在執(zhí)行巡檢過程中，先查詢本頁面所在的物理位置所處的冷熱分區(qū)，以單位時間內(nèi)本區(qū)域?qū)懭氲臄?shù)據(jù)量作為依據(jù)，寫入數(shù)據(jù)量越多則區(qū)域越熱，得出冷熱分區(qū)的系數(shù)對巡檢門限值進行調(diào)整。通過動態(tài)調(diào)整，能夠更好的符合顆粒的實際情況，在保證數(shù)據(jù)可靠性的前提下，保證產(chǎn)品壽命的最大實現(xiàn)。