降低對存儲器接口性能影響的閃存錯誤檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510017224.8 申請日 -
公開（公告）號 CN104615503B 公開（公告）日 2018-10-30
申請公布號 CN104615503B 申請公布日 2018-10-30
分類號 G06F11/10 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黎智 申請（專利權(quán)）人 廣東省電子信息產(chǎn)業(yè)集團有限公司
代理機構(gòu) 廣州粵高專利商標代理有限公司 代理人 廣東華晟數(shù)據(jù)固態(tài)存儲有限公司
地址 511458 廣東省廣州市南沙區(qū)進港大道80號805房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種降低對存儲器接口性能影響的閃存錯誤檢測方法及裝置。根據(jù)閃存各頁所在位置的物理特性，將一個塊中的頁按照ECC增長的速度差異分到不同的組，在實際巡檢操作中，根據(jù)不同的組分配不同的巡檢周期，ECC增長越快的頁面，巡檢周期越短，反之越長。減小了Nand Flash閃存的接口性能壓力，即減小了對存儲器對外接口的性能影響。