一種可拾取及測試的微器件

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022817889.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213401206U 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN213401206U 申請公布日 2021-06-08
分類號 H01L27/15;H01L21/66;H01L21/67 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 談江喬;柯志杰;艾國齊;劉鑒明;江方 申請（專利權(quán)）人 廈門乾照半導(dǎo)體科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 361001 福建省廈門市火炬高新區(qū)（翔安）產(chǎn)業(yè)區(qū)翔天路267號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了可拾取及測試的微器件，通過：在所述溝槽表面設(shè)有第一犧牲層，各所述測試電極于所述溝槽對應(yīng)的第一犧牲層上方間隔分布，且遠離所述LED芯粒而設(shè)置；還包括與所述測試電極呈交叉分布的若干個金屬橋，所述金屬橋用于串聯(lián)相鄰兩個LED芯粒的電極，且所述金屬橋與所述相鄰兩個LED芯粒對應(yīng)溝槽處的測試電極形成連接；所述第二犧牲層包覆各所述LED芯粒使其形成獨立的包覆單元；從而，實現(xiàn)LED芯粒與測試結(jié)構(gòu)的一體化，同時達到LED芯粒排列與分選的目的，以確保后續(xù)測試及轉(zhuǎn)移過程的完美銜接。