基于衛(wèi)星圖片缺陷的定位、識別和分類方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911235407.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110992344A 公開（公告）日 2020-04-10
申請公布號 CN110992344A 申請公布日 2020-04-10
分類號 G06T7/00;G06K9/62 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蘇斌 申請（專利權(quán)）人 北京華恒盛世科技有限公司
代理機構(gòu) 北京科億知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 北京華恒盛世科技有限公司
地址 100013 北京市東城區(qū)和平里東街雍和航星科技園37號樓212室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于衛(wèi)星圖片缺陷的定位、識別和分類方法，包括以下步驟：(1)預(yù)處理步驟，包括對原始圖片的噪點和噪線的特征進行加強，把加強后的全部圖片切分成訓練數(shù)據(jù)集和測試數(shù)據(jù)集；(2)模型訓練，把訓練數(shù)據(jù)集喂入深度學習神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，進行迭代訓練；用測試數(shù)據(jù)集評估訓練好的模型的效果，得到最佳模型；(3)模型部署，用最佳模型對跟新圖推理，實時地得到新圖中缺陷的定位、識別和分類。本發(fā)明實現(xiàn)了端到端的學習，提高了篩圖的速度和精度，給原來深受困擾的人工篩圖生產(chǎn)效率低下的問題提供了一種自動化、高效、精確的解決方案。