基于紅外熱像儀的工件缺陷測(cè)量方法和系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810858243.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN109187637A | 公開(公告)日 | 2019-01-11 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN109187637A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-01-11 |
分類號(hào) | G01N25/72;G06T7/00;G06T7/13 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 吳保林;陳夢(mèng)娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 中科智信達(dá)(天津)科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京瀚仁知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 宋寶庫;陳曉鵬 |
地址 | 100190 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路95號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于紅外測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體提供一種基于紅外熱像儀的工件缺陷測(cè)量方法和系統(tǒng)。本發(fā)明旨在解決現(xiàn)有的紅外熱像儀在工業(yè)應(yīng)用中測(cè)量精度差的問題。為此,本發(fā)明的測(cè)量方法主要包括以下步驟:使紅外熱像儀獲取第一標(biāo)定塊的第一圖像;根據(jù)所述第一圖像獲取紅外熱像儀坐標(biāo)系和第一標(biāo)定塊坐標(biāo)系之間的第一映射關(guān)系;獲取第一標(biāo)定塊坐標(biāo)系和工件坐標(biāo)系之間的第三映射關(guān)系;根據(jù)所述第一映射關(guān)系和第三映射關(guān)系獲取所述紅外熱像儀坐標(biāo)系和工件坐標(biāo)系之間的第二映射關(guān)系;使所述紅外熱像儀遍歷所述工件,檢測(cè)并測(cè)量所述工件上的缺陷。因此,本發(fā)明的測(cè)量方法能夠使紅外熱像儀精準(zhǔn)地定位工件上缺陷的位置,并對(duì)工件上缺陷的尺寸進(jìn)行準(zhǔn)確地測(cè)量。 |
