一種背照式光電探測單元和光電探測器
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202121689645.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215342601U | 公開(公告)日 | 2021-12-28 |
申請公布號 | CN215342601U | 申請公布日 | 2021-12-28 |
分類號 | H01L27/146(2006.01)I;H01L31/02(2006.01)I;H01L31/0216(2014.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 朱春艷 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市靈明光子科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市深佳知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 陳彥如 |
地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道福光社區(qū)留仙大道3370號南山智園崇文園區(qū)3號樓1201 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種背照式光電探測單元,包括至少一個單光子雪崩二極管,位于單光子雪崩二極管摻雜區(qū)表面的輸出金屬和反射金屬,輸出金屬與單光子雪崩二極管的輸出連接,反射金屬和輸出金屬屬于同層金屬,反射金屬位于與單光子雪崩二極管PN結(jié)對應(yīng)的區(qū)域內(nèi)。本申請在單光子雪崩二極管摻雜區(qū)表面設(shè)置輸出金屬和反射金屬,反射金屬和輸出金屬屬于同層金屬,可以同時制作出來,簡化背照式光電探測單元的制作工藝;反射金屬位于單光子雪崩二極管PN結(jié)對應(yīng)的區(qū)域內(nèi),當(dāng)光線射入后,反射金屬可以將未被PN結(jié)捕獲的光子反射到PN結(jié)上,增強背照式光電探測單元的反射效果,提升背照式光電探測單元的光子檢測效率。本申請還提供一種光電探測器。 |
