一種光源檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201510443746.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106370396B 公開（公告）日 2019-02-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN106370396B 申請(qǐng)公布日 2019-02-15
分類號(hào) G01M11/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 夏俊 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市安普盛科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 深圳市安普盛科技有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)科技園高新中二道5號(hào)生產(chǎn)力大樓B座6樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于光學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種光源檢測(cè)方法，包括：使待檢測(cè)光源通過小孔成像鏡頭形成倒立實(shí)像；圖像傳感器接收倒立實(shí)像并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像數(shù)字信號(hào)，獲得待處理圖像；對(duì)待處理圖像進(jìn)行離散傅里葉變換獲得特征頻譜信息；基于特征頻譜信息進(jìn)行圖像重構(gòu)；對(duì)重構(gòu)圖像數(shù)字信號(hào)進(jìn)行特征圖像分割抽取得到特征子圖像；將特征子圖像和待處理圖像做濾波運(yùn)算處理，輸出特性特征矩陣；對(duì)特性特征矩陣進(jìn)行變換得到待檢測(cè)光源的特性信息。本發(fā)明利用小孔成像鏡頭進(jìn)行成像，小孔成像具有光通量小、無限景深、自動(dòng)變焦的特點(diǎn)，可有效解決過曝光問題且降低對(duì)圖像傳感器位置的精確要求；通過特征頻譜信息提取和圖像重構(gòu)可消除干擾，提高抗干擾性。