基于非接觸式高精度的光纖位移計

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120845824.4 申請日 -
公開（公告）號 CN214792996U 公開（公告）日 2021-11-19
申請公布號 CN214792996U 申請公布日 2021-11-19
分類號 G01B11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉昌霞;鐘少龍;李健 申請（專利權(quán)）人 上海拜安傳感技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 上海秋冬專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張媛媛
地址 201210上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗區(qū)蔡倫路150號4號樓4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種基于非接觸式高精度的光纖位移計，屬于光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，測量組件，用于高精度非接觸式測量；底殼，用于安裝測量組件；連接組件，一端與測量組件相連，另一端貫穿底殼并與其滑動連接，用于與被測量物體接觸。本實用新型采用光纖相干光學(xué)的原理做光纖位移計，可以充分發(fā)揮光纖相干傳感器高精度測距的優(yōu)勢，可以實現(xiàn)±0.2um的測量精度，在工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域中，實現(xiàn)結(jié)構(gòu)小型化，方便安裝；不會在使用過程中斷纖、抗震動，實現(xiàn)位移傳感器的長期可靠性。