一種TO測試底座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022015690.1 申請日 -
公開(公告)號 CN212965228U 公開(公告)日 2021-04-13
申請公布號 CN212965228U 申請公布日 2021-04-13
分類號 G01R31/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 王永虎;劉倚紅 申請(專利權(quán))人 武漢敏芯半導(dǎo)體股份有限公司
代理機構(gòu) 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 許美紅
地址 430014湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)金融港四路18號普天物聯(lián)網(wǎng)創(chuàng)新研發(fā)基地(一期)1棟3層02室03號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種TO測試底座,該測試底座包括5個測試孔,5個測試孔呈正五邊形排列,其中1個測試孔為長測試孔,其余4個測試孔為圓測試孔;或其中4個測試孔為圓測試孔,呈等腰梯形排列,第5個測試孔為長測試孔,位于等腰梯形下底的中點處。此外,所有測試孔的孔徑均遠大于LD?TO的管腳直徑,測試底座內(nèi)部的測試孔呈倒圓臺或倒圓錐形;長測試孔為長圓形、長橢圓形或長條形。本實用新型的測試底座能夠兼容現(xiàn)有的兩種測試底座,適用這兩種LD?TO的測試和老化,節(jié)省生產(chǎn)成本。??