一種TO測試底座
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202022015690.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212965228U | 公開（公告）日 | 2021-04-13 |
| 申請公布號 | CN212965228U | 申請公布日 | 2021-04-13 |
| 分類號 | G01R31/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 王永虎;劉倚紅 | 申請（專利權(quán)）人 | 武漢敏芯半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 | 代理人 | 許美紅 |
| 地址 | 430014湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)金融港四路18號普天物聯(lián)網(wǎng)創(chuàng)新研發(fā)基地(一期)1棟3層02室03號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種TO測試底座，該測試底座包括5個測試孔，5個測試孔呈正五邊形排列，其中1個測試孔為長測試孔，其余4個測試孔為圓測試孔；或其中4個測試孔為圓測試孔，呈等腰梯形排列，第5個測試孔為長測試孔，位于等腰梯形下底的中點處。此外，所有測試孔的孔徑均遠大于LD?TO的管腳直徑，測試底座內(nèi)部的測試孔呈倒圓臺或倒圓錐形；長測試孔為長圓形、長橢圓形或長條形。本實用新型的測試底座能夠兼容現(xiàn)有的兩種測試底座，適用這兩種LD?TO的測試和老化，節(jié)省生產(chǎn)成本。?? |
