一種集成電路測試用操作的檢測平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201820139127.5 申請日 -
公開（公告）號 CN207832963U 公開（公告）日 2018-09-07
申請公布號 CN207832963U 申請公布日 2018-09-07
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 湯學李;劉小偉 申請（專利權）人 深圳市興雋光電科技有限公司
代理機構 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 代理人 深圳市興雋光電科技有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技園高新南六道泰邦科技大廈1903
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種集成電路測試用操作的檢測平臺，包括底座，所述底座的上表面分別與兩個固定板的下表面固定連接，且兩個固定板的相對面分別與驅動裝置的兩側面固定連接，所述驅動裝置與第二錐齒輪嚙合，所述第二錐齒輪卡接在螺紋筒的外表面，所述螺紋筒的外表面套接有軸承，所述軸承卡接在支撐板的左側面，所述支撐板的右側面與側板的左側固定連接。該集成電路測試用操作的檢測平臺，通過驅動裝置、第二錐齒輪、螺紋筒、軸承、螺紋柱、第一連接塊、連接桿、第二連接塊、伸縮裝置、連接板和滑塊的相互配合，從而使得工作人員不會因為長時間的工作給身體帶來負擔，提高了工作人員的工作效率，方便了工作人員的工作。