一種芯片測(cè)試壓合機(jī)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020905500.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN211957599U 公開(kāi)(公告)日 2020-11-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN211957599U 申請(qǐng)公布日 2020-11-17
分類號(hào) H01L21/66(2006.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 謝磊;任寧 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海恒浥智能科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 代理人 上海恒浥智能科技股份有限公司
地址 201203上海市浦東新區(qū)郭守敬路351號(hào)2號(hào)樓A661-16室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種芯片測(cè)試壓合機(jī)構(gòu),其中包括:承載芯片的測(cè)試臺(tái),及壓合芯片的壓合單元,其中所述壓合單元包括:連接板,壓塊,固定件,彈性件,所述固定件呈環(huán)形其上環(huán)內(nèi)壁上設(shè)有環(huán)狀固定槽,所述壓塊呈凸形,其上部設(shè)有與所述固定槽適配的限位環(huán),以限制所述壓塊僅下部壓頭從所述固定件內(nèi)環(huán)伸出,所述固定件與所述連接板固定連接,以使所述壓塊上部與所述連接板之間定義出彈性空間,以容納所述彈性件;所述測(cè)試臺(tái)包括:定位件,探針臺(tái),其中所述定位件呈環(huán)形,其圍設(shè)在所述探針臺(tái)上定義出芯片測(cè)試槽,以供承載被測(cè)芯片,并與壓合單元適配,以減少芯片因?yàn)閴汉鲜芰υ斐傻膿p傷。??