一種繼承性大變形光纖測試結構及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110257992.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112833811A 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN112833811A 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01B11/16 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉曉明;陳柏林;郭琪;傅翔;董平 申請（專利權）人 重慶大恒工程設計有限公司
代理機構 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 代理人 鄭豐平
地址 400045 重慶市沙坪壩區(qū)建工東村22號12-2
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種繼承性大變形光纖測試結構及測試方法，包括外接測試設備的多根測試光纖，設置兩個固結區(qū)將測試光纖直接固定在檢測對象上，或者先固定在測試光線載體上，測試光線載體再固定在檢測對象上；所有測試光纖在檢測區(qū)域內長度不同Li≤Li?1（1+δ），δ作為光纖有效測試應變量。測試方法步驟包括：將外接測試設備的測試光纖固結在測試對象上，首先通過第一根測試光纖測試變形量；當測試光纖失效時，第二根測試光纖拉直、進入測試狀態(tài)；當第二根測試光纖失效時，第三根測試光纖拉直、進入測試狀態(tài)……；以此類推，直到完成大變形測試。本發(fā)明結構簡單，穩(wěn)定性好，檢測精度高，結構成本及其實施成本低，實施過程簡單，有極大的應用前景。