一種繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110257987.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112880548A 公開（公告）日 2021-06-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN112880548A 申請(qǐng)公布日 2021-06-01
分類號(hào) G01B7/16 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 葉曉明;陳柏林;郭琪;傅翔 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 重慶大恒工程設(shè)計(jì)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄭豐平
地址 400045 重慶市沙坪壩區(qū)建工東村22號(hào)12-2
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種繼承性大變形電阻應(yīng)變片測(cè)試結(jié)構(gòu)及測(cè)試方法，在測(cè)試區(qū)L兩端設(shè)兩個(gè)固結(jié)區(qū)，將多個(gè)電阻應(yīng)變片Yi兩端固結(jié)在測(cè)試對(duì)象上；在測(cè)試區(qū)L范圍內(nèi)，每個(gè)電阻應(yīng)變片Yi的長度為Li?1＜Li≤Li?1（1+δ）（i=2,...,i,...n），δ表示電阻應(yīng)變片有效測(cè)試應(yīng)變量程。當(dāng)?shù)趇個(gè)電阻應(yīng)變片Yi失效時(shí)，第i+1個(gè)電阻應(yīng)變片Y1+1進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)；變形測(cè)試數(shù)據(jù)為應(yīng)變片Yi數(shù)據(jù)疊加Yi起始點(diǎn)同一時(shí)間點(diǎn)的Yi?1末端數(shù)據(jù)，以此類推完成大變形檢測(cè)。本發(fā)明將電阻應(yīng)變片小變形測(cè)試優(yōu)勢(shì)拓展到大變形測(cè)試領(lǐng)域，能夠提高大變形檢測(cè)精度、拓展大變形檢測(cè)范圍，有很好的應(yīng)用市場(chǎng)前景。