一種繼承性大變形光纖測(cè)試結(jié)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120501512.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214250892U 公開(kāi)（公告）日 2021-09-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN214250892U 申請(qǐng)公布日 2021-09-21
分類號(hào) G01B11/16（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 葉曉明;陳柏林;郭琪;傅翔;董平 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 重慶大恒工程設(shè)計(jì)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄭豐平
地址 400045重慶市沙坪壩區(qū)建工東村22號(hào)12-2
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供了一種繼承性大變形光纖測(cè)試結(jié)構(gòu)，包括：多根測(cè)試光纖，每根測(cè)試光纖外接測(cè)試設(shè)備；設(shè)置兩個(gè)固結(jié)區(qū)將測(cè)試光纖直接固定在檢測(cè)對(duì)象上，或者先固定在測(cè)試光線載體上，測(cè)試光線載體再固定在檢測(cè)對(duì)象上；所有測(cè)試光纖在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)長(zhǎng)度不同Li≤Li?1（1+δ），δ作為光纖有效測(cè)試應(yīng)變量。測(cè)試原理為：第i根測(cè)試光纖Gi即將失效時(shí)，第i+1根測(cè)試光纖Gi+1進(jìn)入有效測(cè)試狀態(tài)，大變形由繼承方式獲得。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，穩(wěn)定性好，檢測(cè)精度高，結(jié)構(gòu)成本及其實(shí)施成本低，實(shí)施過(guò)程簡(jiǎn)單，有極大的應(yīng)用前景。