能量校正方法、裝置、設(shè)備、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011193210.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN112415568A 公開(kāi)(公告)日 2021-02-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN112415568A 申請(qǐng)公布日 2021-02-26
分類(lèi)號(hào) G01T7/00(2006.01)I 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 房磊;張博;肖鵬 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 湖北銳世數(shù)字醫(yī)學(xué)影像科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 436000湖北省鄂州市梧桐湖新區(qū)鳳凰大道9號(hào)東湖高新科技創(chuàng)意城A-03
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種能量校正方法、裝置、設(shè)備、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),該方法可以用于對(duì)包括多個(gè)探測(cè)通道并且每個(gè)探測(cè)通道的探測(cè)數(shù)據(jù)被獨(dú)立讀取的輻射探測(cè)器進(jìn)行能量校正,包括以下步驟:獲取在對(duì)一個(gè)特定放射源發(fā)出的粒子進(jìn)行探測(cè)時(shí)特定探測(cè)通道實(shí)際測(cè)得的粒子能量,其中,所述特定探測(cè)通道為多個(gè)所述探測(cè)通道中的出現(xiàn)粒子在其晶體條內(nèi)完全沉積的探測(cè)通道,并且所述探測(cè)數(shù)據(jù)包括所述粒子能量;根據(jù)所獲取的所述粒子能量以及所述粒子的真實(shí)能量,計(jì)算每個(gè)所述特定探測(cè)通道的校正系數(shù);利用所述校正系數(shù)對(duì)每個(gè)所述特定探測(cè)通道進(jìn)行能量校正。通過(guò)利用本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案,可以降低成本以及簡(jiǎn)化能量校正操作流程。??