一種測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111405547.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114167478A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114167478A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-11 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01T1/202（2006.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 蔡超;汪飛;凌怡清;謝慶國(guó) | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 湖北銳世數(shù)字醫(yī)學(xué)影像科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 436000湖北省鄂州市梧桐湖新區(qū)鳳凰大道9號(hào)東湖高新科技創(chuàng)意城A-03 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法，屬于高能光子測(cè)試領(lǐng)域，測(cè)試設(shè)備包括至少一測(cè)試模塊，其包括位移臺(tái)，用于提供至少一個(gè)方向上的位移；安裝裝置，將電路板安裝于位移臺(tái)；支撐裝置，用于承載閃爍晶體以及臨近所述閃爍晶體的射源；位移臺(tái)調(diào)節(jié)電路板的位置以使電路板與閃爍晶體耦合。本申請(qǐng)的技術(shù)方案中電路板以及閃爍晶體的安裝簡(jiǎn)單、快捷，電路板與閃爍晶體能夠更加精準(zhǔn)的耦合，從而保證了探頭性能測(cè)試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。 |
