一種雙探針的納米測量儀器
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010177815.2 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111238373A | 公開（公告）日 | 2020-06-05 |
| 申請公布號 | CN111238373A | 申請公布日 | 2020-06-05 |
| 分類號 | G01B11/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 蘇全民;陳庚亮 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳明銳儀器有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京棘龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 戴麗偉 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城街道黃閣坑社區(qū)龍飛大道333號啟迪協(xié)信4棟520 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種雙探針的納米測量儀器，包括測量器主體；所述測量器主體的前端設(shè)有第一探針、第二探針；所述第一探針用于探測外部環(huán)境干擾下的被測物體的信號；所述第二探針用于探測被測物體的附近環(huán)境的干擾信號；本發(fā)明的有益效果在于：本設(shè)計采用了雙探針，一個探針探測外部環(huán)境干擾下的被測物體的信號，另一個探測被測物體的附近環(huán)境的干擾信號，通過計算出兩個信號數(shù)值，最后兩個數(shù)值相減，得到的數(shù)值就是被測物體的數(shù)值；讓納米測量系統(tǒng)省去了傳統(tǒng)的封閉壞鏡設(shè)備，且能夠測量大型的被測物體。?? |
