測寬設(shè)備、測寬方法、存儲有測寬程序的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011546014.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112747679A | 公開(公告)日 | 2021-05-04 |
申請公布號 | CN112747679A | 申請公布日 | 2021-05-04 |
分類號 | G01B11/02 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 賈治國;馬豐原;方揚(yáng)揚(yáng);職連杰;黃海霞;黃鵬杰;劉紅 | 申請(專利權(quán))人 | 河南中原光電測控技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 鄭州隆盛專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 姜新宇 |
地址 | 450000 河南省鄭州市自貿(mào)試驗(yàn)區(qū)鄭州片區(qū)(鄭東)博學(xué)路36號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種測寬設(shè)備、測寬方法、存儲有測寬程序的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),用于測量物體的相互平行的第一表面和第二表面之間的寬度,它包括測厚裝置和矯偏裝置,測厚裝置對應(yīng)有第一測量面,第一測量面與第一表面的相交線為第一交線,第一測量面與第二表面的相交線為第二交線,測厚裝置用于測量第一交線與第二交線的距離;矯偏裝置對應(yīng)有第一測量面、第二測量面,第二測量面平行于第一測量面,第二測量面與第一表面的相交線為第三交線,矯偏裝置用于測量第一交線在第二測量面的投影線與第三交線的距離。它可以用于測得物體的兩平行表面之間的寬度的測量數(shù)據(jù)。 |
