測距儀、用于測量板件切割長度的測距設(shè)備、濾波方法、應(yīng)用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011540593.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112731419A 公開（公告）日 2021-04-30
申請公布號 CN112731419A 申請公布日 2021-04-30
分類號 G01S17/08;G01S7/481 分類 測量；測試;
發(fā)明人 賈治國;方揚揚;黃海霞;毛旭 申請（專利權(quán)）人 河南中原光電測控技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 鄭州隆盛專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 姜新宇
地址 450000 河南省鄭州市自貿(mào)試驗區(qū)鄭州片區(qū)（鄭東）博學(xué)路36號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種測距儀及一種用于測量板件切割長度的測距設(shè)備，包括測量光發(fā)生器、光束截面形狀調(diào)制裝置和光接收器，測量光發(fā)生器用于發(fā)出一束測量光束，光束截面形狀調(diào)制裝置設(shè)置在測量光發(fā)生器和被測物體之間的測量光通路上，光束截面形狀調(diào)制裝置包括散光器和遮光器，遮光器包括設(shè)有線形透光間隙的兩個遮光件，線形透光間隙的延伸線與光接收器的光接收軸線共面。它的距離測量精度高。一種濾波方法及其在測量距離上的應(yīng)用，包括：第一環(huán)境光測量步驟；第二環(huán)境光測量步驟；濾除背景光后的測量數(shù)據(jù)等于第二環(huán)鏡光數(shù)據(jù)減去第一環(huán)境光數(shù)據(jù)，使第一環(huán)境光測量步驟的測量時段趨近于第二環(huán)境光測量步驟的測量時段。它可以降低背景光噪聲，測量準確度高。