帶倒扣電極的三坐標(biāo)自動(dòng)化檢測(cè)實(shí)現(xiàn)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711104517.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107869939A 公開（公告）日 2018-04-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN107869939A 申請(qǐng)公布日 2018-04-03
分類號(hào) G01B5/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 彭新開;俞翔;班夢(mèng)凱;鄭冠雄 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中數(shù)復(fù)新智能科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海交達(dá)專利事務(wù)所 代理人 上海愛堃智能系統(tǒng)有限公司
地址 201602 上海市松江區(qū)佘山鎮(zhèn)陶干路701號(hào)5幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種帶倒扣電極的三坐標(biāo)自動(dòng)化檢測(cè)實(shí)現(xiàn)方法，克服現(xiàn)有的三坐標(biāo)測(cè)量自動(dòng)檢測(cè)無法生成測(cè)針與帶倒扣電極無干涉的測(cè)量軌跡的缺點(diǎn)，本發(fā)明充分考慮了電極倒扣面的存在對(duì)三坐標(biāo)自動(dòng)檢測(cè)程序生成的影響，克服了現(xiàn)有的三坐標(biāo)檢測(cè)程序自動(dòng)生成的測(cè)針測(cè)量軌跡與待測(cè)帶倒扣電極的干涉問題，利用本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)帶倒扣電極測(cè)量程式的自動(dòng)生成。通過實(shí)際測(cè)試證明，本發(fā)明可方便快捷地得到三坐標(biāo)檢測(cè)儀的測(cè)針與帶倒扣電極無干涉的測(cè)量軌跡，滿足三坐標(biāo)檢測(cè)儀對(duì)帶倒扣電極形狀和尺寸精確測(cè)量的需要。