一種Nand型快閃存儲(chǔ)器的漏電測(cè)試方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810940068.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN110838335B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-08-03 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110838335B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-03 |
分類(lèi)號(hào) | G11C29/50(2006.01)I | 分類(lèi) | 信息存儲(chǔ); |
發(fā)明人 | 洪杰;馬思博 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 西安格易安創(chuàng)集成電路有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
地址 | 100083北京市海淀區(qū)學(xué)院路30號(hào)科大天工大廈A座12層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種Nand型快閃存儲(chǔ)器的漏電測(cè)試方法。該Nand型快閃存儲(chǔ)器包括存儲(chǔ)單元和感測(cè)放大器,感測(cè)放大器的高壓管的第一端和預(yù)充電電容的第一端電連接,高壓管的第二端以及存儲(chǔ)單元的第一端與位線(xiàn)電連接,預(yù)充電電容的第二端接地,存儲(chǔ)單元的第二端與源極線(xiàn)電連接。Nand型快閃存儲(chǔ)器的漏電測(cè)試方法包括:在Nand型快閃存儲(chǔ)器的擦除驗(yàn)證階段,比較高壓管的第一端的穩(wěn)定電壓與參考電壓的大??;根據(jù)比較結(jié)果判斷高壓管是否漏電。本發(fā)明通過(guò)復(fù)用擦除驗(yàn)證過(guò)程進(jìn)行高壓管漏電測(cè)試,使高壓管兩端加載的電壓差比較大,可以有效地檢測(cè)感測(cè)放大器中的高壓管的漏電情況,從而提高了Nand型快閃存儲(chǔ)器的可靠性。 |
