一種齒輪齒面形狀誤差的非接觸柔性化的測量方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | 2020110583149 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112268520A | 公開(公告)日 | 2021-01-26 |
申請公布號 | CN112268520A | 申請公布日 | 2021-01-26 |
分類號 | G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 王晛;方素平;朱新棟;劉蕓 | 申請(專利權(quán))人 | 西安理工大學(xué) |
代理機(jī)構(gòu) | 西安弘理專利事務(wù)所 | 代理人 | 弓長 |
地址 | 710048陜西省西安市碑林區(qū)金花南路5號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種齒輪齒面形狀誤差的非接觸柔性化的測量方法,沿測量光路設(shè)置有前雙光楔、后雙光楔;沿掃描測量光路設(shè)置有結(jié)構(gòu)光傳感器,前雙光楔與后雙光楔之間放置被測齒輪。將雙光楔引入到了測量光路,定量改變?nèi)肷浣钦丈涞奖粶y面的角度,從而調(diào)整干涉條紋的密度分布方便相位數(shù)據(jù)處理;將結(jié)構(gòu)光傳感器引入干涉測量裝置中,投射的結(jié)構(gòu)光通過在測量過程中與被測物表面的相對運(yùn)動,結(jié)合干涉測量數(shù)據(jù),使得在對大螺旋角復(fù)雜螺旋曲面進(jìn)行測量時(shí)可以保證全場測量。本發(fā)明的測量方法將空間相移技術(shù)引入到干涉測量裝置中,通過單次測量拍攝能夠得到多張移相干涉圖,簡化了操作流程步驟,提升了裝置的抗干擾能力。?? |
