一種卡口數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)校驗方法、系統(tǒng)和裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201711000886.X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN107885795B | 公開（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請公布號 | CN107885795B | 申請公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號 | G06F16/2458(2019.01)I;G08G1/01(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 沙志仁 | 申請（專利權(quán)）人 | 廣東方緯科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 胡輝 |
| 地址 | 510275廣東省廣州市新港西路135號海珠中大科技綜合樓自編411B房 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種卡口數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)校驗方法、系統(tǒng)和裝置，方法包括：根據(jù)已有的卡口檢測數(shù)據(jù)和漏檢卡口的特征推算漏檢卡口的可能出行路徑；根據(jù)漏檢卡口的可能出行路徑和歷史卡口數(shù)據(jù)庫，采用貝葉斯概率模型回溯推算出對應(yīng)于漏檢卡口的所有可能出行路徑的漏檢概率；根據(jù)回溯推算出的漏檢概率，結(jié)合歷史卡口數(shù)據(jù)庫的數(shù)據(jù)對漏檢卡口進行數(shù)據(jù)檢驗和補全；計算卡口的檢出率。本發(fā)明基于貝葉斯概率論、數(shù)據(jù)反推技術(shù)和數(shù)據(jù)的自校驗原理，操作簡易方便，適用面廣；采用了貝葉斯條件概率論的方法分析出漏檢卡口中所有可能出行路徑的漏檢概率，并結(jié)合已有的卡口檢測數(shù)據(jù)計算出卡口的各類檢出率，能保證較高的計算精度。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)挖掘領(lǐng)域。?? |
