一種芯片產(chǎn)品測試規(guī)范的制定方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811316958.6 申請日 -
公開（公告）號 CN109471015B 公開（公告）日 2021-07-20
申請公布號 CN109471015B 申請公布日 2021-07-20
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張曉晶;陳嵐 申請（專利權）人 佛山中科芯蔚科技有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 王寶筠
地址 528200 廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道深海路17號瀚天科技城A區(qū)7號樓一樓104單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片產(chǎn)品測試規(guī)范的制定方法，包括：獲取目標產(chǎn)品包含的各個待測試分產(chǎn)品；解析每一個待測試分產(chǎn)品包含的各個測試參數(shù)，確定與每一個測試參數(shù)對應的初始極值和偏移量極值；依據(jù)所述初始極值和所述偏移量極值，確定每一個測試參數(shù)的測試標準極值；將各個測試標準極值分配給對應的待測試分產(chǎn)品，完成所述目標產(chǎn)品測試規(guī)范的制定。上述的制定方法，集中確定各個待測試分產(chǎn)品的測試標準極值，將各個測試標準極值分配給對應的待測試分產(chǎn)品，完成所述目標產(chǎn)品測試規(guī)范的制定，一個芯片產(chǎn)品只對應一個測試規(guī)范，避免了需要為每一個分產(chǎn)品制定測試規(guī)范，一個芯片產(chǎn)品對應多個測試規(guī)范，導致數(shù)據(jù)處理工作量大的問題。