一種多級下壓式芯片檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121322234.X 申請日 -
公開（公告）號 CN214845631U 公開（公告）日 2021-11-23
申請公布號 CN214845631U 申請公布日 2021-11-23
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 韋虎;黃炫;倪化生 申請（專利權(quán)）人 合肥中科星翰科技有限公司
代理機構(gòu) 合肥律眾知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 侯克邦
地址 230088安徽省合肥市高新區(qū)習(xí)友路2666號中科院合肥技術(shù)創(chuàng)新工程院研發(fā)樓611、612室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種多級下壓式芯片檢測裝置，包括檢測箱，檢測箱內(nèi)部設(shè)有測試臺，測試臺上部設(shè)有支撐安放芯片的復(fù)吸裝置；復(fù)吸裝置包括設(shè)有一對在測試臺上支撐探頭測試芯片時平衡的平衡板，和固定在一對平衡板之間放置芯片的芯片槽，固定連接于芯片槽底部并且與抽風(fēng)機相連的導(dǎo)管，以及活動在復(fù)吸裝置上輔助芯片卡位的定位組件，芯片槽在放置芯片的槽內(nèi)開設(shè)有多個小孔，并且芯片槽在內(nèi)部設(shè)有使小孔和導(dǎo)管相互連通的集中空腔，通過通過限位板上的磁鐵與芯片槽上的異性磁鐵使限位板將芯片槽進行閉合覆蓋，使得裝置在不需要壓實芯片兩端的情況下，防止了夾頭將芯片的邊角磕碰的問題出現(xiàn)，提高的芯片的產(chǎn)出良率。