一種方便對電極箔展平的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010179097.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111288879B 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN111288879B 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01B5/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳建軍;薛海燕 申請（專利權）人 江蘇榮生電子有限公司
代理機構 鹽城高創(chuàng)知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 陳民
地址 224600 江蘇省鹽城市響水縣經濟開發(fā)區(qū)雙園路3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及方便對電極箔展平的檢測裝置領域，具體的說是一種方便對電極箔展平的檢測裝置，包括框架、距離調節(jié)結構、導向結構、檢測結構、標記結構、展平結構和驅動結構；框架上設有兩個對稱的距離調節(jié)結構，距離調節(jié)結構和框架上均設有轉動連接的用于輸送電極箔的導向結構，進而便于通過距離調節(jié)結構調節(jié)框架上的導向結構與距離調節(jié)結構上的導向結構之間的距離，便于適用于不同厚度的電極箔，通過驅動結構驅動框架的內部的導向結構轉動，進而便于快速的控制電極箔在框架上移動；框架的中線處設有用于檢測電極箔平整度的檢測結構，進而便于通過千分表快速的對電極箔的表面的平整度進行檢測，配合導向結構的使用，使電極箔的檢測的效率更高。