一種適用于快速三維形貌測量的二元結構光優(yōu)化方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611269911.X 申請日 -
公開（公告）號 CN106840036B 公開（公告）日 2019-10-01
申請公布號 CN106840036B 申請公布日 2019-10-01
分類號 G01B11/25;G01B11/24 分類 測量；測試;
發(fā)明人 林斌;石磊 申請（專利權）人 江蘇四點靈機器人有限公司
代理機構 南京縱橫知識產權代理有限公司 代理人 浙江四點靈機器人股份有限公司
地址 310052 浙江省杭州市濱江區(qū)建業(yè)路511號華業(yè)大廈4樓410
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種適用于快速三維形貌測量的二元結構光優(yōu)化方法，其特征在于，包括如下步驟：相機、投影儀λ校正；相機標定，畸變校正；投影相移光柵條紋；投影二元結構光編碼圖；相移法求出光柵包裹相位，利用編碼條紋求出光柵級次；求出絕對相位，完成相位去包裹；相位映射為真實高度，重構出三維輪廓。本發(fā)明利用優(yōu)化的二元結構光編碼方法，能夠實現(xiàn)物體三維輪廓重構，且本方法能夠精確確定投影光柵條紋的周期級次，避免了多級灰度值的非線性投影問題和多通道投影的顏色混疊問題，測量速度快速，對不同測量物體均有良好的適應性，具有突出顯著的技術效果。