一種芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821792106.X 申請日 -
公開（公告）號 CN209542773U 公開（公告）日 2019-10-25
申請公布號 CN209542773U 申請公布日 2019-10-25
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉方遠; 林愛軍; 閆駿馳 申請（專利權(quán)）人 南京天易合芯電子有限公司
代理機構(gòu) 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 南京天易合芯電子有限公司
地址 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)橋林街道步月路29號12幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片測試裝置，芯片測試板上安裝有芯片測試底座，芯片通過芯片測試底座將引腳引出，微控制器通過芯片測試底座連接芯片各引腳；芯片測試板上還包括電源電路、OSC頻率放大電路、分頻器電路、AD轉(zhuǎn)換電路、SD卡存儲電路、TFT彩屏顯示電路。針對不同封裝的芯片，只需要制作新的芯片測試底座即可對芯片進行測試。本實用新型的芯片測試裝置，調(diào)試周期短，只需要一個月左右，針對不同封裝的芯片，只需要制作新的測試夾具即可，針對年產(chǎn)量在500萬以下的產(chǎn)品，測試成本低。