相位升采樣方法及裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011021933.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112130806A | 公開（公告）日 | 2020-12-25 |
| 申請公布號 | CN112130806A | 申請公布日 | 2020-12-25 |
| 分類號 | G06F7/544(2006.01)I;G06F7/575(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 欒亦夫;李開;羅麗云 | 申請（專利權(quán)）人 | 銳迪科創(chuàng)微電子（北京）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 銳迪科創(chuàng)微電子（北京）有限公司 |
| 地址 | 100083北京市海淀區(qū)知春路7號致真大廈B座1001-1005號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種相位升采樣方法及裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述方法包括：計(jì)算當(dāng)前采樣點(diǎn)的相位值與前一采樣點(diǎn)的相位值之間的第一差值；當(dāng)所述第一差值大于預(yù)設(shè)第一門限值時，確定第一多項(xiàng)式模型及第一多項(xiàng)式系數(shù)；根據(jù)所述第一多項(xiàng)式模型及所述第一多項(xiàng)式系數(shù)構(gòu)建第一多項(xiàng)式，采用所述第一多項(xiàng)式計(jì)算所述當(dāng)前采樣點(diǎn)與所述前一采樣點(diǎn)之間的升采樣點(diǎn)的相位值。上述方案能夠降低對相位信號進(jìn)行升采樣時存在的信號失真，減少發(fā)射功率譜帶外雜散，提升發(fā)射信號質(zhì)量。?? |
