一種光譜檢測(cè)方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010294923.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111351759A | 公開（公告）日 | 2020-06-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111351759A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-06-30 |
| 分類號(hào) | G01N21/25(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 楊琦;許一力 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 杭州譜析光晶半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京樂知新創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 杭州譜析光晶半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 地址 | 311241浙江省杭州市蕭山區(qū)瓜瀝鎮(zhèn)梅仙村盈錢路梅仙段13號(hào)1幢417(自行分割) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種光譜檢測(cè)方法及系統(tǒng)，首先通過小孔光闌對(duì)被檢測(cè)物體表面的散射光進(jìn)行空間濾波，得到球面波光場(chǎng)信號(hào)；接著利用色散元件對(duì)球面波光場(chǎng)信號(hào)進(jìn)行分光處理，形成多階光學(xué)信號(hào)；進(jìn)一步將多階光學(xué)信號(hào)經(jīng)成像系統(tǒng)成像，并成像至光信號(hào)探測(cè)器；最后由光信號(hào)探測(cè)器根據(jù)成像結(jié)果進(jìn)行光譜檢測(cè)，得到光譜檢測(cè)結(jié)果。?? |
