一種二維單射曲面數據的特征提取與匹配方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010500552.0 申請日 -
公開（公告）號 CN101957992B 公開（公告）日 2012-05-02
申請公布號 CN101957992B 申請公布日 2012-05-02
分類號 G06T7/00(2006.01)I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 吳靜;劉永進;羅曦 申請（專利權）人 蘇州國溯環(huán)境發(fā)展有限公司
代理機構 北京鴻元知識產權代理有限公司 代理人 清華大學;蘇州國溯環(huán)境發(fā)展有限公司
地址 100084 北京市100084信箱82分箱清華大學專利辦公室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種二維單射曲面數據的特征提取和匹配方法，該方法首先將二維單射曲面數據投影到灰度值與數據值成正比的灰度圖像，并將圖像中的灰度值歸一化到區(qū)間[0，255]中，然后從圖像中提取特征點集；以特征點集中的每一個特征點作為參考點，在圖像中繪制通過該特征點的等灰度線，且在圖像中連接同一等灰度線上的特征點，這些等灰度線以及特征點之間的連線將圖像劃分成連續(xù)的區(qū)域塊，根據區(qū)域塊之間的包圍和相鄰關系構造一個Reeb圖。對于需要匹配的兩個二維單射曲面數據，通過匹配兩個Reeb圖中的結點，計算結點之間的相似度，所有匹配結點的相似度之和為兩個二維單射曲面數據之間的相似度。本發(fā)明所提供的方法使得提取的特征容易計算，并且穩(wěn)定性強。