藍(lán)寶石長晶缺陷及表面缺陷光學(xué)檢測方法和檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510064819.9 申請日 -
公開（公告）號 CN105987917A 公開（公告）日 2016-10-05
申請公布號 CN105987917A 申請公布日 2016-10-05
分類號 G01N21/88(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘傳鵬;閆峰;姚紅文 申請（專利權(quán)）人 蘇州蘭葉光電科技有限公司
代理機構(gòu) 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 代理人 范晴
地址 215123 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城西北區(qū)NW-02棟606室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種藍(lán)寶石長晶缺陷及表面缺陷光學(xué)檢測方法和檢測系統(tǒng)，其將相機的鏡頭垂直對準(zhǔn)待檢測藍(lán)寶石的表面，控制所述相機對藍(lán)寶石進行拍攝，并且在所述相機對所述藍(lán)寶石進行拍攝時，利用光源向待檢測的藍(lán)寶石表面垂直投射一束經(jīng)過所述相機鏡頭的平行光束，運用圖像處理軟件對拍攝得到的藍(lán)寶石圖像進行分析，進而判斷出所述藍(lán)寶石是否存在長晶缺陷或表面缺陷。本發(fā)明能夠同時對藍(lán)寶石晶體長晶過程中的缺陷以及后加工過程中所產(chǎn)生的表面缺陷予以全自動智能化檢測，具有檢測效率快、精度高、穩(wěn)定性和統(tǒng)一性好的特點。