藍(lán)寶石長(zhǎng)晶缺陷及表面缺陷光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201520088046.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN204389406U | 公開(公告)日 | 2015-06-10 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN204389406U | 申請(qǐng)公布日 | 2015-06-10 |
分類號(hào) | G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 潘傳鵬;閆峰;姚紅文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州蘭葉光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州創(chuàng)元專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 范晴 |
地址 | 215123 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城西北區(qū)NW-02棟606室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種藍(lán)寶石長(zhǎng)晶缺陷及表面缺陷光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),運(yùn)用該系統(tǒng)檢測(cè)藍(lán)寶石長(zhǎng)晶缺陷及表面缺陷時(shí),將相機(jī)的鏡頭垂直對(duì)準(zhǔn)待檢測(cè)藍(lán)寶石的表面,控制所述相機(jī)對(duì)藍(lán)寶石進(jìn)行拍攝,并且在所述相機(jī)對(duì)所述藍(lán)寶石進(jìn)行拍攝時(shí),利用光源向待檢測(cè)的藍(lán)寶石表面垂直投射一束經(jīng)過所述相機(jī)鏡頭的平行光束,運(yùn)用圖像處理軟件對(duì)拍攝得到的藍(lán)寶石圖像進(jìn)行分析,進(jìn)而判斷出所述藍(lán)寶石是否存在長(zhǎng)晶缺陷或表面缺陷。本實(shí)用新型能夠同時(shí)對(duì)藍(lán)寶石晶體長(zhǎng)晶過程中的缺陷以及后加工過程中所產(chǎn)生的表面缺陷予以全自動(dòng)智能化檢測(cè),具有檢測(cè)效率快、精度高、穩(wěn)定性和統(tǒng)一性好的特點(diǎn)。 |
