超結金屬柵場效應晶體管
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201720464754.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN206877996U | 公開(公告)日 | 2018-01-12 |
申請公布號 | CN206877996U | 申請公布日 | 2018-01-12 |
分類號 | H01L27/06;H01L29/78;H01L29/06;H01L29/417 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 任留濤 | 申請(專利權)人 | 上海超致半導體科技有限公司 |
代理機構 | 上海宏京知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 上海超致半導體科技有限公司 |
地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)蔡倫路1690號2號樓405室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種超結金屬柵場效應晶體管,包括肖特基二極管和超結MOSFET;所述超結MOSFET包括由上至下依次設置的N+源區(qū)外延層、P+體區(qū)外延層、N?耐壓漂移層和N+襯底層,所述N+源區(qū)外延層的邊緣處開設有肖特基溝槽,所述N+源區(qū)外延層的中心開有柵極溝槽,所述肖特基溝槽的底部和所述柵極溝槽的底部均位于所述N?耐壓漂移層內(nèi);所述N?耐壓漂移層的邊緣設有P?電荷補償區(qū),所述P?電荷補償區(qū)位于所述肖特基溝槽的底部;所述超結MOSFET的漏極的鋁線寬度隨電流減小而逐漸變窄,所述超結MOSFET的源極的鋁線寬度隨電流減小而逐漸變窄,所述超結MOSFET的漏極的鋁線和源極的鋁線之間交叉布線。 |
