一種粒徑檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022535806.4 申請日 -
公開(公告)號 CN214150318U 公開(公告)日 2021-09-07
申請公布號 CN214150318U 申請公布日 2021-09-07
分類號 G01N15/02(2006.01)I;G01N21/17(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 李廣;孫似海;郭曉軍;趙猛;李清政;徐晨晨;王倩;李根;王雪 申請(專利權(quán))人 安徽中科光電色選機械有限公司
代理機構(gòu) 合肥中悟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 張婉
地址 230093安徽省合肥市肥西縣桃花鎮(zhèn)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種粒徑檢測裝置,包括控制單元,所述控制單元連接有供料單元、視覺檢測單元、清灰單元和計算單元和加工設(shè)備,且視覺檢測單元與計算單元連接,所述供料單元包括用于對加工設(shè)備取樣的取樣裝置、輸送平臺和振動器。該粒徑檢測裝置,通過供料裝置從加工設(shè)備中取樣,把物料均勻輸送至視覺檢測平臺的焦平面上,計算單元對通過物料的投影圖像進行統(tǒng)計計算獲取粒徑尺寸分布,清灰裝置對物料進行清理并回傳至加工設(shè)備中,通過檢測物料投影面積來獲取顆粒物質(zhì)的粒徑分布數(shù)據(jù),控制單元把粒徑分布數(shù)據(jù)反饋至加工設(shè)備中,能夠同時滿足um及至mm級粒徑顆粒物質(zhì)的檢測系統(tǒng),可以達到較廣的適用范圍。