一種粒徑檢測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022535806.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN214150318U | 公開(公告)日 | 2021-09-07 |
申請公布號 | CN214150318U | 申請公布日 | 2021-09-07 |
分類號 | G01N15/02(2006.01)I;G01N21/17(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李廣;孫似海;郭曉軍;趙猛;李清政;徐晨晨;王倩;李根;王雪 | 申請(專利權(quán))人 | 安徽中科光電色選機械有限公司 |
代理機構(gòu) | 合肥中悟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張婉 |
地址 | 230093安徽省合肥市肥西縣桃花鎮(zhèn) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型公開了一種粒徑檢測裝置,包括控制單元,所述控制單元連接有供料單元、視覺檢測單元、清灰單元和計算單元和加工設(shè)備,且視覺檢測單元與計算單元連接,所述供料單元包括用于對加工設(shè)備取樣的取樣裝置、輸送平臺和振動器。該粒徑檢測裝置,通過供料裝置從加工設(shè)備中取樣,把物料均勻輸送至視覺檢測平臺的焦平面上,計算單元對通過物料的投影圖像進行統(tǒng)計計算獲取粒徑尺寸分布,清灰裝置對物料進行清理并回傳至加工設(shè)備中,通過檢測物料投影面積來獲取顆粒物質(zhì)的粒徑分布數(shù)據(jù),控制單元把粒徑分布數(shù)據(jù)反饋至加工設(shè)備中,能夠同時滿足um及至mm級粒徑顆粒物質(zhì)的檢測系統(tǒng),可以達到較廣的適用范圍。 |
