一種單片Lens外觀自動檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910796536.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110487820A 公開（公告）日 2019-11-22
申請公布號 CN110487820A 申請公布日 2019-11-22
分類號 G01N21/958（2006.01）; G01N21/01（2006.01）; G01M11/02（2006.01） 分類 測量；測試;
發(fā)明人 金國善; 聶法剛; 金鍾鉉; 樸載伶; 曺榮真 申請（專利權(quán)）人 深圳市奈爾森科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市韋恩肯知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李華雙
地址 518109 廣東省深圳市龍華區(qū)大浪街道新石社區(qū)華寧路東龍興科技園3號廠房101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及鏡頭的外觀缺陷檢測，具體涉及一種單片Lens外觀自動檢測設(shè)備，包括，上料機構(gòu)，上料機構(gòu)用于存放待檢測料品并進行上料；取料機構(gòu)，取料機構(gòu)用于將上料機構(gòu)內(nèi)的待檢測料品傳送至第一傳輸機構(gòu)；第一傳輸機構(gòu)，第一傳輸機構(gòu)用于傳輸待檢測料品；第二傳輸機構(gòu)，第二傳輸機構(gòu)用于傳輸待檢測料品；傳料機構(gòu)，傳料機構(gòu)用于將待檢測料品從第一傳輸機構(gòu)傳送至第二傳輸機構(gòu)；上表面光學(xué)檢測機構(gòu)，上表面光學(xué)檢測機構(gòu)用于檢測鏡頭的上表面缺陷；下表面光學(xué)檢測機構(gòu)，下表面光學(xué)檢測機構(gòu)用于檢測鏡頭的下表面缺陷；標(biāo)記機構(gòu)，標(biāo)記機構(gòu)用于不良品的標(biāo)記。本發(fā)明可以有效的把缺陷產(chǎn)品攔截在組裝前，為企業(yè)節(jié)省成本，提高良品率。