一種碳化硅MOSFET器件及其制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201310377625.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN103681256B | 公開(公告)日 | 2016-12-07 |
申請公布號 | CN103681256B | 申請公布日 | 2016-12-07 |
分類號 | H01L21/04(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 黃國華;馮明憲;門洪達(dá);張偉;王坤池;周月 | 申請(專利權(quán))人 | 廈門天睿電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 廈門天睿電子有限公司;黃國華 |
地址 | 361100 福建省廈門市翔安區(qū)翔星路88號臺灣科技企業(yè)育成中心強業(yè)樓507室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種新型碳化硅MOSFET器件及其制作方法,包括碳化硅襯底、緩沖層和位于緩沖層上的導(dǎo)電外延層,在所述導(dǎo)電外延層上設(shè)有柵電極和源極,所述柵電極包括柵介質(zhì)層,在所述導(dǎo)電外延層內(nèi)設(shè)有阱區(qū)和第一類雜質(zhì)離子區(qū),在所述阱區(qū)內(nèi)設(shè)有第二類雜質(zhì)離子區(qū),所述柵電極還包括金屬層,所述金屬層位于所述柵介質(zhì)層的下面。 |
