集成電路測(cè)試裝置及測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010613957.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111871865A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111871865A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-13 |
| 分類號(hào) | B07C5/344;B07C5/02;G01R31/28;G01R31/01 | 分類 | 將固體從固體中分離；分選; |
| 發(fā)明人 | 陳戈 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 紹興網(wǎng)策科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 蔡純 |
| 地址 | 312030 浙江省紹興市柯橋區(qū)越州大道958號(hào)浙江工業(yè)大學(xué)之江學(xué)院科創(chuàng)樓內(nèi)315、317房間 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了集成電路測(cè)試裝置及測(cè)試方法。該集成電路測(cè)試裝置包括：測(cè)試機(jī)，包括多個(gè)測(cè)試工位，用于提供多個(gè)測(cè)試信號(hào)以及對(duì)多個(gè)待測(cè)芯片的響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行分析以獲得測(cè)試結(jié)果；以及分選機(jī)，包括多個(gè)芯片工位，用于放置多個(gè)待測(cè)芯片，以及根據(jù)分選信號(hào)對(duì)多個(gè)待測(cè)芯片進(jìn)行篩選，其中，測(cè)試機(jī)的多個(gè)測(cè)試工位經(jīng)由測(cè)試排線與分選機(jī)的多個(gè)芯片工位相連接，分選機(jī)中存儲(chǔ)經(jīng)由測(cè)試排線傳輸?shù)墓の粯?biāo)識(shí)，測(cè)試機(jī)根據(jù)分選機(jī)中存儲(chǔ)的工位標(biāo)識(shí)產(chǎn)生分選信號(hào)。該集成電路測(cè)試裝置允許測(cè)試機(jī)和分選機(jī)之間任意順序的測(cè)試排線連接，即使在大量待測(cè)芯片測(cè)量的情形也可以避免芯片識(shí)別錯(cuò)誤。 |
