一種基于離子注入的GaN功率器件
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201720734390.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN206907738U | 公開(公告)日 | 2018-01-19 |
申請公布號 | CN206907738U | 申請公布日 | 2018-01-19 |
分類號 | H01L21/265;H01L29/06;H01L29/45;H01L29/47;H01L29/778 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 任遠;陳志濤;劉曉燕;劉寧煬;劉久澄;李葉林 | 申請(專利權(quán))人 | 鶴山市世拓電子科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 廣東世紀專利事務(wù)所 | 代理人 | 廣東省半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院 |
地址 | 510651 廣東省廣州市天河區(qū)長興路363號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種基于離子注入的GaN功率器件,包括GaN緩沖層、GaN溝道層和AlGaN勢壘層,AlGaN勢壘層上設(shè)有源電極、柵電極和漏電極,源電極和漏電極均為歐姆接觸,柵電極為肖特基接觸,各電極之間設(shè)有鈍化層,AlGaN勢壘層與GaN溝道層為異質(zhì)結(jié)構(gòu)且在兩者的界面處由于極化效應而形成有作為GaN功率器件橫向工作導電溝道的二維電子氣,GaN緩沖層中通過離子注入形成有離子隔離區(qū),離子隔離區(qū)位于GaN緩沖層的上部,GaN緩沖層中設(shè)置了離子隔離區(qū)后而在GaN緩沖層的底面鍵合有高導熱襯底。本實用新型采用在GaN緩沖層中通過離子注入形成有隔離區(qū),將GaN溝道與GaN緩沖層隔離開,從而減少了器件漏電流并提高擊穿電壓。 |
