高分六號衛(wèi)星的高分相機的高精度校驗方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011262994.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112097798B 公開（公告）日 2021-03-26
申請公布號 CN112097798B 申請公布日 2021-03-26
分類號 G01C25/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張谷生;王慧靜;劉建明;梁斯東;吳麗沙 申請（專利權）人 北京道達天際科技股份有限公司
代理機構 北京華專卓海知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 王一
地址 100085北京市海淀區(qū)馬連洼北路8號C座7層703室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了高分六號衛(wèi)星的高分相機的高精度校驗方法和裝置。所述方法包括：根據(jù)預設規(guī)則對當前影像進行外定標，生成外定標影像數(shù)據(jù)，并將所述外定標影像數(shù)據(jù)轉換到空間固定坐標系，生成轉換后的影像數(shù)據(jù)，其中，所述當前影像為所述高分六號衛(wèi)星的高分相機的中間第四片的探元陣列采集到的影像；利用預先生成的內定標數(shù)據(jù)對所述轉換后的影像數(shù)據(jù)進行修正，生成校驗后的衛(wèi)星影像。通過本公開的方法，能夠有效消除和補償衛(wèi)星平臺外部系統(tǒng)誤差和相機內部系統(tǒng)誤差。??