一種多芯片半導(dǎo)體封裝及其形成方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110017729.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN112802760B | 公開(公告)日 | 2022-05-06 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN112802760B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-05-06 |
分類號(hào) | H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L21/683(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L25/18(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 孫德瑞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 湖南中科存儲(chǔ)科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳泛航知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 鄧愛軍 |
地址 | 412007 湖南省株洲市天元區(qū)黃河北路272號(hào)幸福大廈1601(03)室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種多芯片半導(dǎo)體封裝及其形成方法,在對(duì)塑封樹脂層進(jìn)行固化處理的過程中,通過分段固化處理,可以有效抑制硅基晶體管在固化過程中產(chǎn)生硅懸空鍵,通過先在氧氣氛圍中使得硅基晶體管充分產(chǎn)生硅懸空鍵,進(jìn)而通過在氮?dú)獾姆諊袩崽幚磉^程以使得氧氣完全排出,進(jìn)而在后續(xù)的固化過程中通過不同的氫氣氛圍進(jìn)行充分的熱處理,進(jìn)而使得硅基晶體管表面的硅懸空鍵充分的轉(zhuǎn)化為硅氫鍵,進(jìn)而有效提高硅基晶體管的穩(wěn)定性。 |
