一種可進行自清潔的電子分析天平

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921501063.X 申請日 -
公開（公告）號 CN210221273U 公開（公告）日 2020-03-31
申請公布號 CN210221273U 申請公布日 2020-03-31
分類號 G01G23/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 丁杭英 申請（專利權(quán)）人 江蘇中泰檢測檢驗有限公司
代理機構(gòu) 深圳市創(chuàng)富知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 江蘇中泰檢測檢驗有限公司
地址 214400江蘇省無錫市江陰市濱江西路8號3號樓413室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種可進行自清潔的電子分析天平，包括測量底座，測量底座上表面中間處固定安裝測量臺，測量底座上表面固定安裝有支撐桿，支撐桿頂部固定安裝玻璃蓋板，支撐桿外側(cè)壁固定安裝玻璃板，支撐桿內(nèi)側(cè)壁焊接有固定桿，固定桿底部開設(shè)有第一凹槽，第一凹槽內(nèi)壁套接螺桿，螺桿左端轉(zhuǎn)動安裝電機，側(cè)壁固定安裝底座，底座側(cè)壁焊接支撐桿，第一凹槽內(nèi)壁套接連接桿，連接桿側(cè)壁開設(shè)螺紋孔，連接桿底端左右側(cè)壁焊接固定板，固定板上表面固定安裝噴槍，固定板側(cè)壁右側(cè)壁焊接縱向清潔裝置，固定板右端底部固定安裝加熱棒，實現(xiàn)了自我清潔，除去測量部位灰塵的目的。??